Tous Actualités
Suivre
Abonner EMPA Laboratoire féd. d'essai des

EMPA Laboratoire féd. d'essai des

L'EMPA récompensée par le prix Eurêka Lillehammer

Berne (ots)

projet sur la réparation /recyclage des composants électroniques
Très souvent les appareils électroniques défectueux
sont éliminés au lieu d'être réparés. Dans son projet «Care
Electronics Materials and Ageing», le Laboratoire fédéral d'essai des
matériaux et de recherche (Empa)a développé des instruments qui
viennent soutenir l'industrie des semi-conducteurs dans ses efforts
de recyclage et de réutilisation des composants électroniques. Ce
projet s'est vu décerner le prix Eurêka Lillehammer à Thessalonique
le 27 juin 2002.
La durée de vie des produits de l'électronique de loisir est
généralement bien plus longue que leur durée d'utilisation effective.
Les téléviseurs par exemple sont remplacés en moyenne tous les 6 ans
bien qu'ils puissent tout à fait être utilisés durant 15 ans. Un
appareil qui ne fonctionne plus est très souvent éliminé bien que sa
panne n'ait été provoquée que par la défectuosité d'un seul de ses
composants. Les montagnes de déchets électroniques recèlent des
millions de composants électroniques qui auraient encore fonctionné
pendant de nombreuses années.
«Pour que les fabricants soient disposés à réutiliser ces
composants, il est indispensable de pouvoir leur fournir des
informations fiables sur leur bon fonctionnement et sur leur durée de
vie résiduelle attendue» déclare Dr Urs Sennhauser, Chef du
laboratoire Electronique/Technique de mesure de l'Empa et chargé de
cours physique et d'analyse des défaillances des composants
électroniques à l'EPF de Zurich. Une équipe de collaborateurs de son
laboratoire (Günter Grossmann, Peter Jacob et Stefan Schürch) ont
créé pour cela des méthodes de détermination de la durée de
disponibilité des appareils et défini des critères d'estimation de la
durée de vie résiduelle des composants en proposant encore aussi des
stratégies de réparation. Les méthodes d'estimation possibles de la
durée de vie d'un composant électronique vont du simple contrôle
visuel jusqu'à la mesure de la température dans l'électronique de
puissance ou des courants de fuite dans les semi-conducteurs (CMOS).
Par le choix de son lauréat, l'initiative Eurêka, qui avec ses 31
états membres fait aujourd'hui partie intégrante de la politique de
la recherche et de la technologie européenne et suisse, pose un
accent particulier sur l'utilisation économe des ressources. Le
savoir ainsi acquis sera diffusé au travers d'ateliers de travail
organisés dans le cadre du programme Eurêka Care Umbrella. Le
commentaire de Urs Sennhauser, engagé lui-même en tant que
superviseur et chef de projets dans différents projets de recherche
en microélectronique, sur le prix qui lui a été décerné: «Cette
attribution du prix Eurêka Lillehammer nous encourage à poursuivre
nos travaux de recherche dans ce domaine. Nous espérons qu'il amènera
aussi l'industrie électronique à se préoccuper davantage dans
l'avenir des concepts de design écologiques.»
Le prix Eurêka Lillehammer
Le prix Eurêka Lillehammer a été créé en 1994, alors que les jeux
olympiques d'hiver se déroulaient précisément à Lillehammer et que la
Norvège assumait la présidence d'Eurêka. Ce prix récompense des
projets Eurêka dont les résultats apportent une amélioration sensible
de la qualité de l'environnement tout en présentant de larges
possibilités d'application commerciales et un impact positif sur
l'économie. Les projets sont évalués par une équipe d'experts
internationaux en matière d'environnement. Le montant du prix est de
10'000 Euro.

Contact:

Robert Helmy
Tél. +41/1/823'45'92

Plus de actualités: EMPA Laboratoire féd. d'essai des
Plus de actualités: EMPA Laboratoire féd. d'essai des
  • 25.06.2002 – 12:15

    FIB - un microscope qui peut se muer en établi

    Une méthode d'examen utilisée en science de matériaux Berne (ots) - Utilisés jusqu'ici souvent uniquement pour la détection des défauts ou pour la modification des micropuces et des systèmes de semi-conducteurs modernes, les deux FIB (Focused Ion Beam, faisceau d'ions focalisé) de l'Empa sont maintenant employés avec succès dans le domaine de la science des matériaux, de la technique des assemblages et des ...