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Scientific Precision Instruments GmbH

Strukturen bis in den subnanometer Bereich werden nun sichtbar mit der Mikroskopkamera TIMM, optische Qualitätskontrolle in einer neuen Dimension

30.05.2001 – 15:57

Oppenheim (ots)

Dem Unternehmen SPI GmbH in Oppenheim ist mit
seiner Neuentwicklung gelungen, feinste Strukturen für optische
Qualitätskontrolle zu erschliessen: Das TIMM (Technical Industrial
Miniature Microscope) kann jetzt z.B. auch Datenpakete auf CD's
sichtbar machen und Leiterbahnen auf einem Wafer prüfen. So
profitieren nun Anwender aus den Bereichen Mikro- und Nanotechnik von
dem in der Robotik etablierten TIMM.
Da das Mikroskop durch seine kleinen Abmessungen (155 mm x 22 mm)
sehr einfach in bestehende Anlagen integriert werden kann, wird
prozessbegleitende Kontrolle in Gebieten möglich, in denen bisher
direkt vor Ort keine optischen Informationen erfasst werden konnten.

Kontakt:

Scientific Precision Instruments GmbH
Dr. Udo Sonnhof
Wormser Strasse 32
D-55276 Oppenheim

Tel. +49 6133 925181
Fax +49 6133 1707
E-Mail: info@spi-robot.de

Internet:
www.spi-robot.de
www.tecnews.de
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