EMPA Laboratoire féd. d'essai des
FIB - un microscope qui peut se muer en établi
Une méthode d'examen utilisée en science de matériaux Berne (ots) - Utilisés jusqu'ici souvent uniquement pour la détection des défauts ou pour la modification des micropuces et des systèmes de semi-conducteurs modernes, les deux FIB (Focused Ion Beam, faisceau d'ions focalisé) de l'Empa sont maintenant employés avec succès dans le domaine de la science des matériaux, de la technique des assemblages et des ...