PVA TePla AG

EANS-News: PVA TePla AG stärkt Halbleiter-Aktivitäten - Übernahme der Munich Metrology GmbH

--------------------------------------------------------------------------------
  Corporate News übermittelt durch euro adhoc. Für den Inhalt ist der
  Emittent/Meldungsgeber verantwortlich.
--------------------------------------------------------------------------------
Fusion/Übernahme/Beteiligung


Wettenberg (euro adhoc) - (Wettenberg, 06.07.2012) - Die PVA TePla AG,
Wettenberg, ein Hersteller von Anlagen für die Kristallisation von Silizium
sowie von Vakuum- und Hochtemperaturanlagen, stärkt mit der Übernahme der Munich
Metrology GmbH, München, ihre Kompetenz auf dem Gebiet der analytischen Systeme
für die Halbleiterindustrie.

Die PVA TePla AG übernimmt zum 6. Juli 2012 die Munich Metrology GmbH. Das
Unternehmen, ursprünglich hervorgegangen aus der GeMeTec mbH, entwickelt und
vertreibt weltweit innovative Analysesysteme zur Bestimmung der
Oberflächenverunreinigungen auf Wafern für die Halbleiterindustrie. Insbesondere
metallische Verunreinigungen können mittels der bei Munich Metrology
entwickelten VPD (Vapour-Phase-Decomposition)-Technologie mit einer äußerst
hohen Empfindlichkeit und Reproduzierbarkeit erfasst werden. Vollautomatisierte
Systeme, die die VPD-Technologie in Kombination mit massenspektroskopischen
Analyseverfahren (ICP-MS) einsetzen, genügen bezüglich der Bestimmung des
Kontaminationsgrades von Wafern und Mikroelektronik-Bauelementen allerhöchsten
Ansprüchen auch zukünftiger Entwicklungen.

Mit der Übernahme der Munich Metrology GmbH, die im Geschäftsjahr 2011 ein
Umsatzvolumen im niedrigen einstelligen Millionenbereich realisiert hat, baut
die PVA TePla AG ihre technologische Kompetenz im Bereich der Wafer-Analytik
(Metrologie) konsequent aus und stärkt die bestehenden Metrologie-Aktivitäten im
Geschäftsbereich Semiconductor Systems. Neben den Ultraschallmikroskopen der PVA
TePla Analytical Systems GmbH und Monitoring-Systemen für Scherspannungen des
Produktbereiches Plasma Systems verfügt die PVA TePla AG nun über ein drittes
Standbein im Bereich der 'high-end' Analytik für Wafer bis zu 450mm Durchmesser.
"Es ist erklärtes Ziel unserer Strategie für den Geschäftsbereich Semiconductor
Systems, komplementäre Technologien aufzubauen und damit der Halbleiterindustrie
ein breiteres Produktspektrum und weitere, innovative Lösungen anzubieten",
erläutert Dr. Arno Knebelkamp, Vorstandsvorsitzender der PVA TePla AG.

Die Munich Metrology hat sich mit ihren 14 Mitarbeitern und den
Tochtergesellschaften in Hsinchu, Taiwan und in Sacramento, CA, USA in den
letzten Jahren positiv entwickelt und wird durch die Einbindung in die PVA TePla
AG zusätzliche Umsatz- und Ergebnisbeiträge realisieren können. Darüberhinaus
bedeuten Synergien in der Technologieentwicklung und die Integration in das
weltweite Vertriebs- und Servicenetzwerk der PVA TePla AG klare Vorteile für den
Kunden und damit zusätzliche Wachstumsimpulse. Dr. Walter Böhme, Geschäftsführer
der Munich Metrology GmbH ergänzt: "Wir sind überzeugt davon, mit der PVA TePla
AG den idealen Partner zur Weiterent-wicklung der Munich Metrology gefunden zu
haben". 

Über den Kaufpreis haben beide Unternehmen Stillschweigen vereinbart.


Rückfragehinweis:
Dr. Gert Fisahn
Tel.: +49 641 68690-400
E-Mail: gert.fisahn@pvatepla.com

Ende der Mitteilung                               euro adhoc 
--------------------------------------------------------------------------------


Unternehmen: PVA TePla AG
             Im Westpark 10-12
             D-35435 Wettenberg
Telefon:     +49(0)641 68690-0
FAX:         +49(0)641 68690-800
Email:    ir@pvatepla.com
WWW:      http://www.pvatepla.com
Branche:     Misc. Industrials
ISIN:        DE0007461006
Indizes:     CDAX
Börsen:      Freiverkehr: Hannover, Berlin, München, Hamburg, Düsseldorf,
             Stuttgart, Regulierter Markt/Prime Standard: Frankfurt 
Sprache:    Deutsch
 



Weitere Meldungen: PVA TePla AG

Das könnte Sie auch interessieren: