Scientific Precision Instruments GmbH

Strukturen bis in den subnanometer Bereich werden nun sichtbar mit der Mikroskopkamera TIMM, optische Qualitätskontrolle in einer neuen Dimension

    Oppenheim (ots) - Dem Unternehmen SPI GmbH in Oppenheim ist mit seiner Neuentwicklung gelungen, feinste Strukturen für optische Qualitätskontrolle zu erschliessen: Das TIMM (Technical Industrial Miniature Microscope) kann jetzt z.B. auch Datenpakete auf CD's sichtbar machen und Leiterbahnen auf einem Wafer prüfen. So profitieren nun Anwender aus den Bereichen Mikro- und Nanotechnik von dem in der Robotik etablierten TIMM.

    Da das Mikroskop durch seine kleinen Abmessungen (155 mm x 22 mm) sehr einfach in bestehende Anlagen integriert werden kann, wird prozessbegleitende Kontrolle in Gebieten möglich, in denen bisher direkt vor Ort keine optischen Informationen erfasst werden konnten.

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